当前位置：首页 > 产品中心 > 测厚仪 > 白光干涉薄膜厚度测量仪 > 白光干涉薄膜厚度测试仪

白光干涉薄膜厚度测试仪

简要描述：白光干涉薄膜厚度测试仪，TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。

产品型号：
厂商性质：生产厂家
更新时间：2023-06-29
访问量：1583

产品咨询联系我们

产品分类

Product Category

测厚仪

白光干涉薄膜厚度测量仪

查看全部

详细介绍

品牌	贝拓科学	价格区间	面议
产地类别	国产	应用领域	医疗卫生,生物产业

仪器介绍

TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。

产品特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

白光干涉薄膜厚度测试仪

应用领域

半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻胶ITO等）

触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)

汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）

医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）

技术参数

型号	TF200-VIS	TF200-EXR	TF200-DUV	TF200-XNIR
波长范围	380-1050nm	380-1700nm	190-1100nm	900-1700nm
厚度范围	50nm-40um	50nm-300um	1nm-30um	10um-3mm
准确度¹	2nm	2nm	1nm	10nm
精度	0.2nm	0.2nm	0.2nm	3nm
入射角	90℃	90℃	90℃	90℃
样品材料	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明
测量模式	反射/透射	反射/透射	反射/透射	反射/透射
光斑尺寸²	2mm	2mm	2mm	2mm
是否能在线	是	是	是	是
扫描选择	XY可选	XY可选	XY可选	XY可选

注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。

2.可选微光斑附件。

产品咨询

上一篇：DSA-X Plus自动型水滴角测试仪
下一篇：RT100透反射率测量仪

白光干涉薄膜厚度测试仪

仪器介绍

产品特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

应用领域

技术参数

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：